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芯片高低溫測(cè)試儀結(jié)構(gòu)特點(diǎn)： 箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。 箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑。

芯片高低溫測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)： 1、溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃ 2、濕度范圍：20~98％ RH（請(qǐng)參考愛(ài)佩提供的標(biāo)準(zhǔn)行業(yè)溫濕度分布范圍圖設(shè)定使用） 3、波動(dòng)/均勻度：≤±0.5℃ /±2℃

小型耐高低溫試驗(yàn)箱工作原理及作用：采用加熱絲加熱，壓縮機(jī)制冷，微電腦控制等方式工作，主要用于測(cè)試、實(shí)驗(yàn)和試驗(yàn)確定電子產(chǎn)品及電子產(chǎn)品零配件或材料在進(jìn)行高溫、低溫、或恒定交變?cè)囼?yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

高低溫老化試驗(yàn)箱橡膠主要適用于航空航天、電子電工、汽車(chē)摩托車(chē)、化工冶金、質(zhì)檢計(jì)量、科研單位、高等院校、企事業(yè)單位、各種電子元?dú)饧认嚓P(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫環(huán)境下貯存和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，檢測(cè)其各性能指標(biāo)，是產(chǎn)品模擬高低溫試驗(yàn)條件一款模擬環(huán)境箱。

高低溫試驗(yàn)房是一種主要用于模擬不同環(huán)境下產(chǎn)品的性能和可靠性的測(cè)試設(shè)備。其設(shè)計(jì)精良、功能完備，可以幫助制造商在生產(chǎn)前對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試與驗(yàn)證，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力。

高低溫潮濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

非標(biāo)定做耐高低溫檢測(cè)箱廠家用于模擬產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下（高低溫儲(chǔ)存，高低溫交變，高溫高濕，低溫低濕，溫度循環(huán)）檢測(cè)材料在各種環(huán)境下的適應(yīng)能力與特性是否改變，適合各類(lèi)科研單位，大專(zhuān)院校，檢測(cè)機(jī)構(gòu)，電子、電器、通訊、汽車(chē)配件、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。

高低溫設(shè)備檢測(cè)機(jī)構(gòu)技術(shù)參數(shù)： 溫度笵圍:0℃、-20℃、-40℃、-70℃～150℃ 濕度笵圍 :20%～98%RH 升溫速度 :RT～150℃約40min